四點探針系統(tǒng)

快速準(zhǔn)確的特性，適用于各種材料

概述

作為物理學(xué)研究所獲獎的Ossila太陽能電池原型平臺的一部分，Ossila的四點探針系統(tǒng)是一種易于使用的工具，用于快速測量薄片電阻、電阻率和材料的導(dǎo)電性。

使用我們自己的源測量單元，我們已經(jīng)能夠創(chuàng)建一個低成本的系統(tǒng)，實現(xiàn)廣泛的測量范圍。探針頭使用彈簧接點而不是尖銳的針頭，可以避免對精密樣品的損壞，例如厚度為納米級的聚合物薄膜*。

該系統(tǒng)包括一個四點探針，源測量單元，和易操作的PC軟件-使更多的實驗室可以測量薄片電阻。我們提供2年免費保修。

* 該系統(tǒng)不適用于測量形成天然絕緣氧化物(如硅)的材料的性能.

功能特征

寬電流范圍- 4點探針能夠發(fā)出1 μA和150毫安之間的電流，可測量的電壓范圍從低至100 μV至10 V。該系統(tǒng)可以測量薄板電阻范圍從100 mΩ/□至10 MΩ/□，可兼容材料范圍十分廣泛。

易于使用-只需插入系統(tǒng)，安裝軟件，你就可以開始了!直觀的界面和簡潔的設(shè)計使四點探針系統(tǒng)易于使用，簡化了片材電阻的測量?？梢允褂酶鞣N形狀和尺寸的基片。

高精度-正極性和負(fù)極性的測量可以通過PC軟件執(zhí)行。這使您能夠計算正負(fù)電流之間的平均薄片電阻-從而消除可能發(fā)生的任何電壓偏移，從而提高測量的精度。

無損檢測-設(shè)計時考慮到精密樣品的測量，四個探針頭全部采用鍍金，溫和的帶圓形探針頭的彈簧負(fù)載接觸方式。這會有60克的持續(xù)接觸力，防止探頭穿透脆弱的薄膜的同時，仍然提供良好的電接觸。

節(jié)省空間的設(shè)計-通過仔細(xì)的設(shè)計考慮，我們已經(jīng)能夠保持四個探針的占地面積到最小(總工作臺面積為14.5厘米x 24厘米)，即使在繁忙的空間緊張實驗室，仍然可以使用本系統(tǒng)。

快速材料表征- PC軟件(包括系統(tǒng))執(zhí)行所有必要的測量和計算薄片電阻，電阻率和電導(dǎo)率-使材料表征毫不費力。它還可以自動進行校正因子計算。

常見問題解答

什么樣的樣品厚度與系統(tǒng)匹配?

四點探針系統(tǒng)是專門設(shè)計用來測量納米范圍內(nèi)的薄膜。例如，我們成功地在PET上測量了PH為1000的30 - 40 nm的PEDOT:PSS薄膜和< 100 nm的銀納米線薄膜，薄膜中沒有產(chǎn)生空洞。有關(guān)更深入的解釋，請參閱我們的應(yīng)用說明:薄膜的薄片電阻測量。

我是否需要自己的源測量單位(源表)?

該系統(tǒng)有一個內(nèi)置的Ossila源測量單元(SMU)，所以您不需要再買了。

該系統(tǒng)能測量的電阻率/電導(dǎo)率范圍有多大?

當(dāng)系統(tǒng)測量樣品的薄片電阻時，無法給出可測量電阻率或電導(dǎo)率的一般范圍。這是因為可測量的電阻率范圍取決于被測樣品的厚度。試樣的電阻率可由其薄片電阻和厚度計算，公式如下:

該系統(tǒng)的測量范圍在100 mΩ/□和10 MΩ/□之間，所以如果我們使用上述公式中的這些值, 測量的樣品厚度是50 nm的話，那么該系統(tǒng)可以測量的電阻率(電導(dǎo)率)范圍將是5 nΩ.m到500 mΩ.m(2S/m ~ 200MS /m)。如果樣品為400μm厚，則系統(tǒng)的電阻率(電導(dǎo)率)范圍為40μΩ.m到4 kΩ.m (250μS/m ~ 25ks/m)。下表為系統(tǒng)測量不同數(shù)量級厚度樣品的電阻率和電導(dǎo)率范圍:

你們能提供其它探頭設(shè)計嗎?

目前我們提供單一探針布局，即探針間距1.27 mm的線性探針，探針直徑0.48 mm，以及60 g的彈簧壓力。這使我們能夠提供的價格合理的四點探針系統(tǒng)，同時仍然提供可靠和準(zhǔn)確的薄片電阻測量。

這個價格包括所有配置嗎?

是的，產(chǎn)品頁面上顯示的一切都包括在內(nèi)! 源-測量單元，四點探針頭，線性平移平臺，軟件，甚至ito涂層玻璃基片!

技術(shù)規(guī)格

測量規(guī)格

*準(zhǔn)確性是與真實值相比較的最大偏差.

** 精度是同一測量值之間的最大偏差(用于比較測量).

物理規(guī)格

軟件

· 界面簡潔直觀

· 數(shù)據(jù)保存到.csv文件

· 計算已知厚度樣品的電阻率和電導(dǎo)率

· 自動校正因子計算

直觀和用戶友好的獨立PC程序用于控制四點探針測量，快速表征材料，而不需要用戶自己編寫任何代碼。該PC軟件可為給定的樣本幾何形狀計算適當(dāng)?shù)膸缀涡拚?/span>數(shù)，以確保準(zhǔn)確的結(jié)果。如果提供了樣品厚度，它還可以計算樣品的電阻率和電導(dǎo)率，以便對材料進行廣泛的電氣表征。

薄板電阻Lite測量軟件

100nm ITO薄膜的四點探針測量(S111)

該軟件將數(shù)據(jù)保存到逗號分隔值(.csv)文件，方便將數(shù)據(jù)導(dǎo)入到您喜歡的分析軟件。高級設(shè)置讓您對測量有更大的控制，允許您設(shè)置電壓和電流限制，執(zhí)行負(fù)極性測量，或使用不同間隔的探針。

軟件要求

應(yīng)用

材料特性描述-電阻率是材料的固有特性，是一種重要的電學(xué)性質(zhì)。它可以通過測量已知厚度的薄膜的薄片電阻來確定，這使四點探針測量成為材料電學(xué)表征的關(guān)鍵技術(shù)。

薄膜太陽能電池和發(fā)光二極管-薄膜設(shè)備(如鈣鈦礦太陽能電池或有機發(fā)光二極管)需要橫向傳輸電荷的薄導(dǎo)電電極來提取。因此，在這一階段，需要使用低薄片電阻的材料來減少潛在的損失。當(dāng)嘗試放大這些設(shè)備時，這就變得更加重要了，因為電荷在被提取出來之前必須沿著電極走得更遠(yuǎn)。

請注意，這個系統(tǒng)不適合硅或其他自然形成絕緣氧化物層的材料。要測量這類材料，需要用探針穿透氧化層，這可能無法用該系統(tǒng)使用的彈簧加載的圓形探針。

理論

四點探針是測量材料薄片電阻常用的設(shè)備。薄片電阻是一種材料的電阻率除以它的厚度，表示橫向電阻通過一個薄的方形導(dǎo)電/半導(dǎo)體材料。這種測量方法使用四個探針排列在一條線上，每個探針之間的間距相等。外部兩個探頭之間通過電流，導(dǎo)致內(nèi)部兩個探頭之間的電壓降低。通過測量電壓的這種變化，可以用下面的等式來計算薄片電阻

這里，I是外加電流，ΔV是內(nèi)側(cè)兩個探頭之間的電壓下降值。這個方程的結(jié)果還必須乘以一個幾何修正因數(shù)，該修正因數(shù)基于樣品的形狀、大小和厚度。這就解釋了通過樣本的可能影響測量值電流路徑的局限性。

在我們的薄板電阻理論指南中可以找到關(guān)于薄板電阻理論背后的理論、幾何校正因數(shù)和四點探針技術(shù)的更深入的解釋。